Решения Bruker для наноиндентирования обеспечивают работу в диапазоне нагрузок от пико- до микроньютонов и используют статические и динамические высокочастотные методы для исследования механических характеристик.
4 июня 2020 года эксперт Bruker по атомно-силовой микроскопии и наноиндентированию Денис Фокин провел вебинар, посвященный изучению покрытий, МЭМС- и НЭМС-технологий и наноматериалов. Предлагаем вам посмотреть видеозапись вебинара.
Ключевые темы вебинара:
-
новые режимы и методики наноиндентирования поверхности;
- новое оборудование в линейке Bruker-Hysitron;
- возможности интегрирования систем наноиндентирования с микроскопами и рентгеновскими томографами.
На вебинаре были представлены продукты
Система in-situ индентирования, специально разработанная для установления физико-химических изменений во время деформации. Объединяется с микроскопами, чтобы обеспечить одновременную характеризацию с помощью комбинационного рассеяния (рамановского) в процессе индентирования на малых масштабах, растяжении, сжатии или испытании на изгиб.
Компактный низкопрофильный наномеханический измерительный прибор для количественных наномеханических испытаний. Обеспечивает исключительную производительность и превосходную стабильность в наноразмерном диапазоне.
Bruker Hysitron PI 85L может быть подключен к сканирующему электронному микроскоп для получения изображений СЭМ. Сочетание этих двух методов позволяет исследователю расположить зонд с предельной точностью и отображать процесс деформации на протяжении всего испытания.
Комплексный наномеханический испытательный прибор для СЭИ и FIB / СЭМ. Создан на основе передовой технологии емкостных преобразователей Bruker.
Полноценный индентор для измерения глубины, способный проводить прямые наномеханические испытания в просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ). PI 95 также можно настраивать и модернизировать доступными опциями нагрева, электрического или трибологического (царапина) обновления, чтобы приспособиться к обширному диапазону текущих и будущих исследований материалов.
Автоматическая настольная наномеханическая и нанотрибологическая испытательная система Hysitron TS 77 Select обеспечивает самый высокий уровень производительности и функциональности в своем классе. Построенная вокруг хорошо зарекомендовавшей себя технологии емкостного преобразователя BRUKER TriboScope, эта новая испытательная система обеспечивает надежное получение механических и трибологических характеристик в масштабах от нанометра до микрометра.
Наноиндентор, обеспечивающий точные результаты измерения наномеханических характеристик. Базовая конфигурация включает в себя возможность проведения исследований методом наноцарапания, наноизноса, сканирования с помощью сканирующего зондового микроскопа высокого разрешения, динамического наноиндентирования, а также обеспечивает всестороннее понимание поведения материала на наноуровне.
Компактный наноинтендер, который предоставляет набор необходимых инструментов для механических и трибологических испытаний в наномасштабах.
Стандартные измерения для современных исследований могут быть выполнены с использованием универсальных базовых конфигураций Hysitron TI Premier. Также пользователям доступны многочисленные варианты модернизации методов.
Трибоиндентор, который предоставляет возможности количественной характеристики наноидентирования жестким зондом и нанотрибологических характеристик в области атомно-силовой микроскопии. Взаимодействует с АСМ Bruker Dimension Icon, Dimension Edge и MultiMode 8 для расширения характеристик этих микроскопов.
Трибоиндентер, обеспечивающий количественную характеристику механических свойств для рентгеновских микроскопов (XRM) и линий пучка. Может использоваться для выполнения механических испытаний: вдавливание, сжатие, усталость и изгиб, которые затем можно соотнести с 2D- или 3D-изображениями с главного микроскопа.
Зонды и стандартные образцы для нано- и пико-инденторов Bruker Hysitron
Bruker/Hysitron обладает широким спектром зондов для инденторов, позволяя выбрать зонд для проведения любого эксперимента по нано- и пикоиндентированию. Все зонды полностью совместимы с производимым оборудованием.
