Используя этот сайт, вы даете согласие на обработку cookies и ваших персональных данных.
Я согласен
Бесплатный звонок: 8 800 2000 567
en
Бесплатный звонок: 8 800 2000 567

Атомно-силовая микроскопия Bruker. Новые возможности в высокоразрешающих методах исследования поверхности. Запись вебинара

13 мая 2020 года эксперт Bruker по атомно-силовой микроскопии и наноиндентированию Денис Фокин провел вебинар, посвященный развивающемуся и растущему семейству микроскопических методов. Предлагаем вам посмотреть видеозапись вебинара.

Атомно-силовая микроскопия — метод исследования, обладающий большим количеством методик и режимов для исследований самых различных свойств поверхности.

Вы узнаете о продуктах Bruker Dimension Fastscan, Bruker Dimension Icon, Bruker Multimode 8 и о новых возможностях атомно-силовой микроскопии Bruker:
  • Новом методе динамического тестирования Bruker NanoDMA III;
  • Режиме DATACube для проведения электрических измерений на наноуровне;
  • Спектроскопии пьезоотклика;
  • Микроскопии микроволнового импеданса.


На вебинаре были представлены продукты:

Bruker Dimension FastScan
Атомно-силовой микроскоп Bruker Dimension FastScan

Атомно-силовой микроскоп, который позволяет максимально быстро получать результаты высокого уровня независимо от уровня подготовки пользователя. Для этого используется запатентованная технология автоматической оптимизации изображения ScanAsyst. Непревзойденная простота эксплуатации, эффективность, производительность и универсальность микроскопа Dimension FastScan делают его идеальным выбором для любой АСМ-задачи.
166f023073abd91febc437df40b3e17b.jpg
Атомно-силовой микроскоп Bruker Dimension Icon

Широкоформатный сканирующий зондовый микроскоп, разработанный для исследований поверхности полупроводниковых пластин, литографических масок, магнитных носителей, биоматериалов, оптики. Он обеспечивает революционно низкий уровень теплового дрейфа и крайне малый шум по Z, и позволяет пользователям получать свободные от артефактов изображения за считанные минуты.



Смотреть видеозапись вебинара:

video

Смотрите также

x