Ключевые темы вебинара:
- Возможности и преимущества линейки двухлучевых высокоразрешающих электронных микроскопов ZEISS: Crossbeam 350, Crossbeam 550, Crossbeam 550L;
- Особенности пробоподготовки;
- Методика работы FIB (фокусированного ионного пучка) и аналитической приставки EBSD.
На вебинаре были представлены продукты:

Микроскоп для задач обратной инженерии и формирования трехмерных нанообъектов. Готовит однородные срезы толщиной 10 нм с помощью ионного пучка и препарирует поверхность с точностью 3 нм по вертикали.

Флагман линейки электронно-ионных микроскопов ZEISS. Создает и исследует новые изделия и технологии, а также изображает поверхность любых объектов с нанометровым разрешением.

Микроскоп для изучения образцов большого размера. Оснащен столиком с большим диапазоном перемещений, а также 4 дополнительными портами под навесное оборудование.