Используя этот сайт, вы даете согласие на обработку cookies и ваших персональных данных.
Я согласен
Бесплатный звонок: 8 800 2000 567
en
Бесплатный звонок: 8 800 2000 567

Двухлучевая электронная микроскопия ZEISS с приставкой EBSD. Запись вебинара

Высокоразрешающая электронная микроскопия с аналитическим функционалом EBSD (дифракция обратно рассеянных электронов) позволяет визуализировать и интерпретировать все многообразие свойств металлов и сплавов.

29 июля 2020 года научный сотрудник ИМЕТ им. А. А. Байкова РАН Константин Воркачев провел вебинар, посвященный возможностям высокоразрешающей микроскопии. Предлагаем посмотреть видеозапись вебинара.

Ключевые темы вебинара:

  • Возможности и преимущества линейки двухлучевых высокоразрешающих электронных микроскопов ZEISS: Crossbeam 350, Crossbeam 550, Crossbeam 550L;
  • Особенности пробоподготовки;
  • Методика работы FIB (фокусированного ионного пучка) и аналитической приставки EBSD.



На вебинаре были представлены продукты:

01
Электронно-ионный микроскоп ZEISS Crossbeam 350

Микроскоп для задач обратной инженерии и формирования трехмерных нанообъектов. Готовит однородные срезы толщиной 10 нм с помощью ионного пучка и препарирует поверхность с точностью 3 нм по вертикали.
022.jpg
Электронно-ионный микроскоп ZEISS Crossbeam 550

Флагман линейки электронно-ионных микроскопов ZEISS. Создает и исследует новые изделия и технологии, а также изображает поверхность любых объектов с нанометровым разрешением.
03.jpg
Электронно-ионный микроскоп ZEISS Crossbeam 550L

Микроскоп для изучения образцов большого размера. Оснащен столиком с большим диапазоном перемещений, а также 4 дополнительными портами под навесное оборудование.



Смотреть видеозапись вебинара:

video

Смотрите также

x