Используя этот сайт, вы даете согласие на обработку cookies и ваших персональных данных.
Я согласен
Бесплатный звонок: 8 800 2000 567
en
Бесплатный звонок: 8 800 2000 567

Вебинары от экспертов ZEISS по световой, электронной, атомно-силовой микроскопии


В 2019-2020 годах эксперты ZEISS и Bruker провели ряд вебинаров по световой, электронной, атомно-силовой микроскопии. Приглашаем всех, кто заинтересован в новых эффективных методиках работы с микроскопией, посмотреть записи вебинаров и задать вопросы нашим экспертам




Вебинары по световой микроскопии и программному обеспечению ZEISS


ZEISS ZEN
ZEISS ZEN. Автоматизация измерений и машинное обучение
Узнайте, какие задачи можно решать с помощью автоматических измерений и как использовать инструмент Зоны Интереса для анализа клеток.
Смотреть вебинар >>


ZEISS ZEN_1
Машинное обучение и анализ изображений
Вебинар посвящен современным методам микроскопии в решении научно-исследовательских и прикладных задач с использованием программного обеспечения ZEISS ZEN. Узнайте, как машинное обучение упрощает настройку анализа изображения.
Смотреть вебинар >>

Оптическая микроскопия ZEISS для материаловедения
Оптическая микроскопия ZEISS для материаловедения
Познакомьтесь с линейкой оптических микроскопов ZEISS и узнайте о возможностях их применения для решения исследовательских и прикладных задач в материаловедении, промышленности и геологии.
Смотреть вебинар >>



Вебинары по сканирующей электронной и двухлучевой электронной микроскопии ZEISS

Двухлучевая электронная микроскопия ZEISS
Двухлучевая электронная микроскопия ZEISS с приставкой EBSD. Изучение микроструктуры металлов и сплавов
Высокоразрешающая электронная микроскопия позволяет визуализировать и интерпретировать свойства металлов и сплавов. Узнайте об особенностях пробоподготовки и методике работы FIB (фокусированного ионного пучка) и аналитической приставки EBSD.
Смотреть вебинар >>

Методы исследования металлов и сплавов
Сканирующая электронная микроскопия, методы исследования металлов и сплавов
Узнайте, как электронные микроскопы помогают при гранулометрическом, металлографическом, фрактографическом анализе и исследованиях морфологии различных объектов.
Смотреть вебинар >>


Вебинары по атомно-силовой микроскопии Bruker

Bruker Новые возможности в высокоразрешающих методах исследования поверхности
Атомно-силовая микроскопия Bruker. Новые возможности в высокоразрешающих методах исследования поверхности
Атомно-силовая микроскопия обладает большим количеством методик и режимов для исследований самых различных свойств поверхности. Узнайте больше о проведении электрических измерений на наноуровне, спектроскопии пьезоотклика и микроскопии микроволнового импеданса.
Смотреть вебинар >>


Зонды Bruker для атомно-силовой микроскопии
Зонды Bruker для атомно-силовой микроскопии
Узнайте больше о линейке зондов Bruker для атомно-силовой микроскопии, особенностях применения и методиках для их правильного подбора.
Смотреть вебинар >>







Свяжитесь с нами



Смотрите также

x