Атомно-силовая микроскопия Bruker. Новые возможности в высокоразрешающих методах исследования поверхности. Запись вебинара
Атомно-силовая микроскопия Bruker. Новые возможности в высокоразрешающих методах исследования поверхности. Запись вебинара
13 мая 2020 года эксперт Bruker по атомно-силовой микроскопии и наноиндентированию Денис Фокин провел вебинар, посвященный развивающемуся и растущему семейству микроскопических методов. Предлагаем вам посмотреть видеозапись вебинара.
Атомно-силовая микроскопия — метод исследования, обладающий большим количеством методик и режимов для исследований самых различных свойств поверхности.
Вы узнаете о продуктах Bruker Dimension Fastscan, Bruker Dimension Icon, Bruker Multimode 8 и о новых возможностях атомно-силовой микроскопии Bruker:
Новом методе динамического тестирования Bruker NanoDMA III;
Режиме DATACube для проведения электрических измерений на наноуровне;
Атомно-силовой микроскоп Bruker Dimension FastScan
Атомно-силовой микроскоп, который позволяет максимально быстро получать результаты высокого уровня независимо от уровня подготовки пользователя. Для этого используется запатентованная технология автоматической оптимизации изображения ScanAsyst. Непревзойденная простота эксплуатации, эффективность, производительность и универсальность микроскопа Dimension FastScan делают его идеальным выбором для любой АСМ-задачи.Атомно-силовой микроскоп Bruker Dimension Icon
Широкоформатный сканирующий зондовый микроскоп, разработанный для исследований поверхности полупроводниковых пластин, литографических масок, магнитных носителей, биоматериалов, оптики. Он обеспечивает революционно низкий уровень теплового дрейфа и крайне малый шум по Z, и позволяет пользователям получать свободные от артефактов изображения за считанные минуты.
