Мы используем файлы cookie для правильного функционирования сайта. Работая с нашим сайтом, вы даете свое согласие на использование нами cookie-файлов
Я согласен
Бесплатный звонок: 8 800 2000 567
en
Бесплатный звонок: 8 800 2000 567

Решение для поточного контроля покрытия на большие поверхности

ThinProcess® — это комплексное решение ZEISS для контроля процесса нанесения покрытия на большие поверхности. ThinProcess® предоставляет полную информацию о качестве вашей продукции с прецизионностью лабораторных систем.

Благодаря современному программному обеспечению линейка систем может быть оснащена новейшими датчиками ZEISS. Они отвечают требованиям «лабораторной точности» непосредственно на технологической линии.


Линейка изделий ThinProcess® предлагает решения для поточного мониторинга процессов нанесения покрытия в любых условиях:

  • на горизонтальные или вертикальные стеклянные поверхности
  • при непрерывной подаче рулонного материала
  • в вакууме или в присутствии воздуха

Все модели линейки изделий ThinProcess®

  • Измеряют спектральное отражение, коэффициент пропускания и поверхностное сопротивление слоя в поточном режиме на стационарном производственном оборудовании.
  • С использованием спектральных характеристик рассчитывают колориметрические значения, толщину покрытия и другие параметры.
  • Имеют модульную комплектацию с возможностью расширения.
  • Особенности линейки изделий ThinProcess®:
  • Максимальная точность в производственных условиях
  • Высокая частота измерения
  • Гибкий и простой в использовании программный интерфейс для всех областей применения
  • Интеграция на уровне автоматизации посредством протоколов OPC DA, PROFIBUS, PROFINET, ETHERNET I/P и др., а также модулей цифрового ввода/вывода и базы данных SQL
  • Аналоговая информация и модель автоматизации для универсального применения на технологической линии
  • Ввод в эксплуатацию и обучение компанией ZEISS.
Подобрать оборудование
ZEISS ThinProcess WEB

ZEISS ThinProcess WEB

ThinProcess® WEB — это одно- или многоканальная спектрометрическая система, которая измеряет оптические свойства по завершении одного или нескольких этапов нанесения покрытия при непрерывной подаче рулонного материала. Может быть полностью интегрирована в систему автоматизации промышленной установки. Измерение может проводиться в вакууме или в условиях атмосферы.

ZEISS ThinProcess R

ZEISS ThinProcess R

ThinProcess® R — это одно- или многоканальный спектрометр, измеряющий оптические свойства по завершении одного или нескольких этапов нанесения покрытия. Управление системой использует сигналы цифрового модуля ввода/вывода или полевой шины для запуска измерений и сравнения с эталоном.

ZEISS ThinProcess Q

ZEISS ThinProcess Q

ThinProcess® Q — это траверсная спектрометрическая система, которая измеряет оптические свойства готового изделия. Работает в нескольких режимах автоматического сканирования для измерения предварительно установленных на готовом изделии позиций.

Другие решения

Решение для разработки клеточных линий
Решение для эффективной диагностики туберкулеза
Решение для микро- и наноэлектроники
Решение для отделений патологической анатомии
3D-принтинг в биомедицине: оборудование, задачи, области применения
Решение для вирусологических лабораторий
Заинтересованы в сотрудничестве?

Свяжитесь с нами по телефону: 8–800–2000–567 или заполните форму обратной связи:

Связаться с ZEISS
x