Используя этот сайт, вы даете согласие на обработку cookies и ваших персональных данных.
Я согласен
Бесплатный звонок: 8 800 2000 567
en
Бесплатный звонок: 8 800 2000 567

Образовательный портал ZEISS Russia & CIS. Вебинары и статьи про решение исследовательских задач с помощью микроскопии

Приглашаем экспертов, заинтересованных в новых эффективных методиках работы с микроскопией, познакомиться с Образовательным порталом ZEISS Russia & CIS.

Образовательный портал — это подборка вебинаров, практик применения и статей для решения исследовательских и прикладных задач в области материаловедения, наук о жизни, промышленной метрологии, геологии, биологии, медицине и образовании. Материалы подготовлены экспертами ZEISS, представителями компаний Bruker, WITec, и адаптированы для русскоязычных пользователей.

Ключевые тематики:

  • Световая микроскопия и программное обеспечение для обработки результатов исследований
  • Организация обучения работе со световыми микроскопами
  • Оптимизация рутинной работы в лабораториях с помощью смарт-микроскопии
  • Обработка и хранение результатов исследований на облачных платформах
  • Документация результатов исследований с помощью цифровых камер
  • Сканирующая электронная и двухлучевая электронная микроскопия
  • Новые возможности в высокоразрешающих методах исследования поверхности средствами атомно-силовой микроскопии
  • Особенности применения и методики подбора зондов для атомно-силовой микроскопии
  • Изучение микроструктуры металлов и сплавов с помощью двухлучевой электронной микроскопии
  • Исследование вирусов с помощью атомно-силовой микроскопии и оптического пинцета.

Перейти на Образовательный портал >>

Смотрите также

x