Приглашаем экспертов, заинтересованных в новых эффективных методиках работы с микроскопией, познакомиться с Образовательным порталом ZEISS Russia & CIS.
Перейти на Образовательный портал >>
Образовательный портал — это подборка вебинаров, практик применения и статей для решения исследовательских и прикладных задач в области материаловедения, наук о жизни, промышленной метрологии, геологии, биологии, медицине и образовании. Материалы подготовлены экспертами ZEISS, представителями компаний Bruker, WITec, и адаптированы для русскоязычных пользователей.
Ключевые тематики:
- Световая микроскопия и программное обеспечение для обработки результатов исследований
- Организация обучения работе со световыми микроскопами
- Оптимизация рутинной работы в лабораториях с помощью смарт-микроскопии
- Обработка и хранение результатов исследований на облачных платформах
- Документация результатов исследований с помощью цифровых камер
- Сканирующая электронная и двухлучевая электронная микроскопия
- Новые возможности в высокоразрешающих методах исследования поверхности средствами атомно-силовой микроскопии
- Особенности применения и методики подбора зондов для атомно-силовой микроскопии
- Изучение микроструктуры металлов и сплавов с помощью двухлучевой электронной микроскопии
- Исследование вирусов с помощью атомно-силовой микроскопии и оптического пинцета.
Перейти на Образовательный портал >>