8 июня 2017 года в Донском государственном техническом университете в
Рабочая станция ZEISS Crossbeam сочетает в себе сканирующий электронный микроскоп, который позволяет получать объемные изображения и проводить химический анализ объектов с нанометровым разрешением и технологию сфокусированного ионного пучка (FIB), благодаря которой можно проводить наномодификацию поверхности и получать материалы, обладающие качественно новыми свойствами.
«ДГТУ постоянно изменяется, открываются новые направления, готовятся востребованные на рынке труда специалисты, — сказал на церемонии открытия первый заместитель губернатора Ростовской области Игорь Гуськов. — Нам важно, что ведущий опорный вуз постоянно совершенствует свою инфраструктуру. Такие лаборатории позволяют восполнить недостающее звено между научными разработками и серийным производством».
