Мы используем файлы cookie для правильного функционирования сайта. Работая с нашим сайтом, вы даете свое согласие на использование нами cookie-файлов
Я согласен
Бесплатный звонок: 8 800 2000 567
en
Бесплатный звонок: 8 800 2000 567
| 18:00

Вебинар «Новая технология SIM²: сверхвысокое разрешение до 60нм»

Зарегистрироваться
28 апреля в 18:00 GMT+3 приглашаем специалистов по световой и лазерной микроскопии принять участие в вебинаре, посвященном новой революционной технологии SIM². Эксперты расскажут о проблемах, связанных с ограничениями стандартных технологий сверхвысокого разрешения, и о том, как их можно решить с помощью SIM².

Технология Lattice SIM, применяемая в ZEISS Elyra 7, открыла дверь к новым возможностям высокоскоростной микроскопии сверхвысокого разрешения до 120 нм с возможностью глубокого проникновения в самые сложные образцы. А что, если разрешение можно сделать еще выше — вплоть до 60 нм?

Новая революционная технология SIM², которая также будет доступна в ZEISS Elyra 7, позволяет обойти ограничения, существующие в стандартных технологиях сверхвысокого разрешения. Она поможет исследователям решить ряд задач:

  • Разрешить структуру суборганелл размером до 60 нм без необходимости специальной подготовки образцов или экспертных знаний сложных методов микроскопии
  • Производить захват сверхскоростных процессов с исключительным разрешением во всех трех измерениях
  • Осуществлять подавление внефокального сигнала для получения самых тонких оптических срезов в широкопольной микроскопи
  • Получить изображение со сверхвысоким разрешением быстрее, чем когда-либо.

Спикеры

  • Рене Далримпл
    Рене Далримпл

    Менеджер по продукту Life Sciences Lattice Line, ZEISS Research Microscopy Solutions

  • Маркус Зауэр
    Маркус Зауэр

    Департамент биотехнологий и биофизики, Биоцентр, Вюрцбургский университет, Германия

  • Ханс Блом
    Ханс Блом

    Заведующий производством. Световая микроскопия, Лаборатория Science for Life Laboratory, Королевский технологический институт, Стокгольм, Швеция.

x