28 апреля в 18:00 GMT+3 приглашаем специалистов по световой и лазерной микроскопии принять участие в вебинаре, посвященном новой революционной технологии SIM². Эксперты расскажут о проблемах, связанных с ограничениями стандартных технологий сверхвысокого разрешения, и о том, как их можно решить с помощью SIM².
Технология Lattice SIM, применяемая в ZEISS Elyra 7, открыла дверь к новым возможностям высокоскоростной микроскопии сверхвысокого разрешения до 120 нм с возможностью глубокого проникновения в самые сложные образцы. А что, если разрешение можно сделать еще выше — вплоть до 60 нм?
Новая революционная технология SIM², которая также будет доступна в ZEISS Elyra 7, позволяет обойти ограничения, существующие в стандартных технологиях сверхвысокого разрешения. Она поможет исследователям решить ряд задач:
- Разрешить структуру суборганелл размером до 60 нм без необходимости специальной подготовки образцов или экспертных знаний сложных методов микроскопии
- Производить захват сверхскоростных процессов с исключительным разрешением во всех трех измерениях
- Осуществлять подавление внефокального сигнала для получения самых тонких оптических срезов в широкопольной микроскопи
- Получить изображение со сверхвысоким разрешением быстрее, чем когда-либо.
