Используя этот сайт, вы даете согласие на обработку cookies и ваших персональных данных.
Я согласен
Бесплатный звонок: 8 800 2000 567
en
Бесплатный звонок: 8 800 2000 567
 - 

Виртуальный саммит ZEISS по сканирующей электронной микроскопии


6-8 июля приглашаем принять участие в виртуальном саммите ZEISS по сканирующей электронной микроскопии.

В серии вебинаров эксперты в области FE-SEM рассмотрят множество типов материаловедческих образцов и расскажут, как достижения в области технологий обнаружения, корреляционной микроскопии и измерений продолжают способствовать повышению производительности и развитию уникальной колонны Gemini. Вы узнаете, как машинное обучение, лазеры, локальные нагрев и напряжение, рамановская спектроскопия и многие другие методы используются для решения самых разных задач.

Ключевые темы:

  • Возможности сканирующей электронной микроскопии в материаловедении
  • FE-SEM в мультимодальной микроскопии
  • FE-SEM in situ эксперименты


Программа

6 июля 11:00 — 13:00 | FE-SEM для исследований в материаловедении

Технология Gemini остается золотым стандартом контрастности и разрешения в самом широком диапазоне исследований. Вы узнаете, как проходило эволюционирование колонны Gemini, чтобы обеспечить получение превосходного изображения для современных магнитных материалов, полимеров, сталей и сплавов.


7 июля 11:00 — 13:15 | Корреляционная микроскопия

Корреляционная микроскопия — быстро развивающееся направление в микроскопии. Вы узнаете, как корреляция расширяет возможности сканирующего электронного микроскопа для изучения молекулярной спектроскопии, расширенных многомасштабных рабочих процессов в решении проблем экологии, а также прокладывает путь для новых исследований.


8 июля 11:00 — 13:30 | FIB-SEM in situ возможности

Возрастание требований к качеству материалов приводят к тому, что их испытания под нагрузкой и температурой в пределах их рабочих характеристик становятся критически важными. Вы узнаете об in situ методах, включая наноиндентирование, корреляцию цифровых микрокомпонентов, дифракцию и трехмерную томографию на основе изображений STEM.


Организаторы

ZEISS Microscopy

ZEISS Microscopy

Институт исследования материалов (Аален, Германия)

Институт исследования материалов (Аален, Германия)

x