Электронный микроскоп

WITec RISE

Основная информация

WITec RISE — это растровый электронный микроскоп с полностью интегрированной корреляционной рамановской визуализацией на базе РЭМ SIGMA Carl Zeiss.

Подробнее...

Производитель WITec

Область применения

археология, биотехнологии, геология, криминалистика, материаловедение, экология, автомобильная промышленность, аэрокосмические технологии, экспертиза в искусстве, машиностроение, металлургия, нефтегазовая промышленность, пищевая промышленность, нанотехнологии

Описание
Микроскоп RISE объединяет в себе функции растрового электронного микроскопа и конфокального рамановского микроскопа WITec alpha 300:
- быстрое и удобное переключение между измерениями методом рамановской визуализации и растровой электронной микроскопии;
- автоматическое перемещение образца при смене режимов исследования;
- интегрированный программный интерфейс для удобного управления измерениями;
- корреляция результатов измерений и наложения изображений;
- беспрецедентные возможности растровой электронной микроскопии и рамановской визуализации;
- простота использования и интуитивно понятная процедура измерения;
- исключительная производительность;
- преимущества обоих технологий, интегрированных в единый корпус;
- уникальные возможности визуализации для исследований в области материаловедения, нанотехнологий, полимероведения, геолого-геофизических исследований, медико-биологических наук, фармацевтической промышленности.
RISE-микроскопия
Образцы RISE-микроскопии автоматически перемещаются внутри вакуумной камеры растрового электронного микроскопа от одного участка сканирования к другому. Это позволяет оптимизировать рабочий процесс и в значительной степени повысить удобство использования прибора. С микроскопом RISE возможно дополнительное построение изображения химической структуры молекулярных соединений.

Конфокальная рамановская микроскопия
- конфокальная рамановская визуализация с беспрецедентной скоростью, чувствительностью и разрешением;
- формирование гиперспектральных изображений с информацией о полном спектре комбинационного рассеяния в каждом пикселе изображения;
- широкоформатное дифракционно-ограниченное латеральное разрешение, составляющее 200–300 нм;
- великолепное разрешение по глубине идеально подходит для создания трехмерных изображений и профилей глубины;
- спектроскопическая система со сверхвысокой пропускной способностью обеспечивает максимальную чувствительность и наилучшее спектральное разрешение;
- сверхбыстрая обработка рамановских изображений с временем интеграции 0,76 миллисекунд на спектр;
- неразрушающий метод визуализации: не требуется окрашивания и фиксации образца.
Сервисное обслуживание
Постгарантийное обслуживание в Сервисном Центре ZEISS –
это квалифицированная техническая поддержка и модернизация оборудования
от профессиональных инженеров:
- диагностика, профилактические и регламентные работы
- удаленные консультации
- замена запасных частей и комплектующих
- модернизация оборудования и установка актуального ПО
Узнать больше