WITec RISE

Микроскоп RISE объединяет в себе функции растрового электронного микроскопа и конфокального рамановского микроскопа WITec alpha 300:

• Быстрое и удобное переключение между измерениями методом рамановской визуализации и растровой электронной микроскопии.
• Автоматическое перемещение образца при смене режимов исследования .
• Интегрированный программный интерфейс для удобного управления измерениями.
• Корреляция результатов измерений и наложения изображений.
• Беспрецедентные возможности растровой электронной микроскопии и рамановской визуализации
• простота использования и интуитивно понятная процедура измерения
• исключительная производительность
• преимущества обоих технологий, интегрированных в единый корпус
• уникальные возможности визуализации для исследований в области материаловедения, нанотехнологий, полимероведения, геолого-геофизических исследований, медико-биологических наук, фармацевтической промышленности.

RISE-микроскопия

Образцы RISE-микроскопии автоматически перемещаются внутри вакуумной камеры растрового электронного микроскопа от одного участка сканирования к другому. Это позволяет оптимизировать рабочий процесс и в значительной степени повысить удобство использования прибора. С микроскопом RISE возможно дополнительное построение изображения химической структуры молекулярных соединений.

Конфокальная рамановская микроскопия

• Конфокальная рамановская визуализация с беспрецедентной скоростью, чувствительностью и разрешением.
• Формирование гиперспектральных изображений с информацией о полном спектре комбинационного рассеяния в каждом пикселе изображения.
• Широкоформатное дифракционно-ограниченное латеральное разрешение, составляющее 200–300 нм.
• Великолепное разрешение по глубине идеально подходит для создания трехмерных изображений и профилей глубины.
• Спектроскопическая система со сверхвысокой пропускной способностью обеспечивает максимальную чувствительность и наилучшее спектральное разрешение.
• Сверхбыстрая обработка рамановских изображений с временем интеграции 0,76 миллисекунд на спектр.
• Неразрушающий метод визуализации: не требуется окрашивания и фиксации образца.