Bruker Dimension Icon - это атомно-силовой микроскоп для научных исследований и промышленных задач. Он обеспечивает революционно низкий уровень теплового дрейфа и крайне малый шум по Z, и позволяет пользователям получать свободные от артефактов изображения за считанные минуты.
Bruker Dimension Icon – широкоформатный сканирующий зондовый микроскоп, разработанный для исследований поверхности полупроводниковых пластин, литографических масок, магнитных носителей, биоматериалов, оптики. Он позволяет получать характеристики, доступные до этого на СЗМах, предназначенных для исследования небольших образцов.
Bruker Dimension Icon оснащен технологией автоматической оптимизации изображения ScanAsyst, которая обеспечивает простое и быстрое получение устойчивых результатов, независимо от уровня квалификации пользователя. Непревзойденная простота эксплуатации, эффективность, производительность и универсальность микроскопа Dimension Icon делают его идеальным выбором практически для любой АСМ-задачи.
Режимы работы
- Контактный режим
- Режим латеральных сил
- Полуконтактный режим (tapping mode)
- Режим регистрации фазы
- Двухпроходный режим
- Магнитно-силовая микроскопия
- Электро-силовая микроскопия
- Кельвин-микроскопия (потенциал поверхности)
- Силовая спектроскопия (в т.ч. силовое картирование)
- Туннельная микроскопия и спектроскопия
- Режим торсионных колебаний
- Режим Harmonix
- Наноиндентирование
- Нанолитография
- Наноманипуляции
- Термическая микроскопия
- Термоанализ
- Микроскопия сопротивления растекания
- Туннельная АСМ
- Проводящая АСМ
- Емкостная микроскопия
- PeakForce QNM
- ScanAsyst
Режим PeakForce QNM
PeakForce Quantitative Nanomechanical Property Mapping позволяет использовать значительно меньшие силы, чем традиционный полуконтактный режим, для работы с особо деликатными образцами и сверхострыми зондами. PeakForce QNM обеспечивает прямое измерение сил взаимодействия зонд-образец, что делает его мощным инструментом количественного анализа механических свойств материалов - адгезии, упругости и др. Поскольку силовая кривая строится в каждом пикселе изображения, разрешение полученной карты свойств поверхности равно разрешению топографии.
- Высокое латеральное разрешение карт механических свойств материалов. Разрешение изображений составляет около 2 нм – типичное значение радиуса закругления кантилеверов Bruker.
- Количественные данные. Поскольку все механические свойства вычисляются на основе силовых кривых, полученные значения имеют количественный характер. Изображения механических свойств выдаются сразу со шкалой в абсолютных единицах.
- Чрезвычайно широкий диапазон значений измеряемых характеристик. Например, модуль упругости можно измерять в пределах 1 МПа – 100 ГПа, адгезию в пределах 10 пН – 10 мкН.
- Неразрушающие измерения. Силы взаимодействия зонд-образец существенно ниже, чем даже в полуконтактном режиме. Это делает возможным работу с особо деликатными образцами и сверхострыми зондами.
- Нет необходимости настройки резонансной частоты кантилевера. Частота колебаний зонда всегда постоянная – 2 кГц (1 кГц для микроскопа BioScope Catalyst).
- Возможность применения широкого диапазона зондов.
- Контроллер Nanoscope V обеспечивает высокую скорость обработки массива силовых кривых, благодаря чему изображения топографии и карт поверхности отображаются одновременно по 8-ми независимым каналам.
Система ScanAsyst
ScanAsyst - это первая интеллектуальная система, позволяющая автоматически оптимизировать качество изображений атомно-силовой микроскопии. ScanAsyst освобождает исследователя от необходимости настраивать параметры обратной связи (setpoint, feedback gains), скорость сканирования. Это делает процесс получения картинки не сложнее, чем выбор области сканирования, как на воздухе, так и в жидкости.
ScanAsyst основан на режиме PeakForceTapping (или как продолжение этого режима – PeakForce QNM(Quantitative Nanomechanical Property Mapping). Суть режима заключается в следующем: колебания зонда генерируются с помощью вертикальных перемещений трубки пьезосканера с частотой 2 кГц. При каждом касании острия кантилевера поверхности образца строится кривая силы взаимодействия зонд-образец. Максимальное значение этой силы используется в качестве сигнала обратной связи. Система автоматически анализирует получаемое изображение и «налету» оптимизирует параметры сканирования, делая качество картинки наилучшим.
- Неразрушающие измерения. Силы взаимодействия зонд-образец существенно ниже, чем даже в полуконтактном режиме. Это делает возможным работу с особо деликатными образцами и сверхострыми зондами
- Нет необходимости настройки параметров сканирования (setpoint, feedback gains, скорость сканирования) и резонансной частоты кантилевера
- Отличные результаты при работе в жидкостях т.к. значение параметра setpoint динамически подстраивается;
- Возможность профилирования узких и глубоких впадин и канавок.
