CAMECA SXFiveFE – это электронно-зондовый микроанализатор с источником автоэлектронной эмиссии для количественного анализа и рентгеновского картирования в высоком разрешении.
SXFiveFE - электронно-зондовый микроанализатор пятого поколения. Сочетает в себе электронную колонну с источником автоэлектронной эмиссии и высокочувствительные продвинутые спектрометры. Даёт возможность проведения высокоточного количественного химического микроанализа и рентгеновского картирования в максимально возможном пространственном разрешении для применения в минералогии, геохронологии, металлургии и материаловедении.
Оптимизированная электронная колонна с источником автоэлектронной эмиссии
SXFiveFE оснащён источником автоэлектронной эмиссии (источник Шоттки). Электронная колонна была оптимизирована, чтобы обеспечить малый диаметр пучка при большом токе, даже при малых ускоряющих напряжениях. Таким образом, достигается максимальное пространственное разрешение при рентгеновском картировании и количественном анализе. Интенсивность луча измеряется с высокой точностью с помощью цилиндра Фарадея и может быть отрегулирован в любой момент. Это обеспечивает стабильность на уровне 0,5% в час и позволяет получать достоверные количественные данные. Высоковольтная система поддерживает напряжение до 30 кВ для элементов с большим атомным числом.
Высокоточный волновой дисперсионный спектрометр
Волновая дисперсионная спектрометрия признана наиболее предпочтительным методом точного количественного анализа. Микрозонд SXFiveFE может быть оснащён пятью волновыми дисперсионными спектрометрами и одним энерго-дисперсионным. Оптические датчики позволяют точно позиционировать спектрометры, которые могут быть установлены вертикально для анализа плоских и гладких образцов, либо наклонены для анализа шероховатых образцов. Кристаллы высокой чувствительности обеспечивают практически в три раза более высокую интенсивность, сохраняя значения отношения пик-фон и спектрального разрешения, а также позволяя работать на всём спектрометрическом диапазоне. Эта особенность делает SXFive и SXFiveFE наиболее эффективными для анализа следовых и лёгких элементов.
Оптимизированный вакуум
Воздух в SXFiveFE откачивается турбомолекулярным насосом и сухим форвакуумным насосом для обеспечения чистого вакуума. Колонна подключена к двум геттерно-ионным насосам для создания сверхвысокого вакуума в источнике автоэлектронной эмиссии. Все вентили управляются пневатически, а вакуум контролируется усовершенствованным процессором для большей надёжности.
Полностью интегрированный оптический микроскоп для контроля образца
Цифровая камера с зарядовой связью позволяет освещать непрозрачные образцы отражённым светом, а тонкие сечения — проходящим светом. Поле обзора оптического изображения может быть отрегулировано на значение от 250 до 1700 мкм благодаря приводным линзам. Система автофокусирования гарантирует возвращение образца в зону «фокусировки».
Программное обеспечение для автоматизации и анализа
SXFive оснащён современным ПО для рентгеновской визуализации и автоматизации. Работает под управлением последней версии Windows, обладает интуитивным интерфейсом. Улучшенная автоматизация для большей эффективности и автономности анализа Узнайте больше о Peaksight, программном обеспечении для электронно-зондового микроанализа, разработанном компанием CAMECA на базе Windows.
Возможности SXFiveFE
- Внутренняя диффузия лёгких элементов в жаропрочном никелевом сплаве
Электронно-зондовый микроанализатор SXFiveFE выполняет картирование лёгких элементов в высоком разрешении, позволяя изучать внутренние диффузии во всех видах металлов и сплавов. Читать далее Рентгеновские изображения пироксена
- Количественный анализ пироксена
Микроанализатор SXFiveFE выполняет картирование в высоком разрешении и точный количественный анализ следовых элементов в минералах. Читать далее Зонирование следовых элементов в монаците
- Геохронология монацита
Микроанализатор SXFiveFE выполняет неразрушающее локальное измерение тория, урана и свинца в зёрнах монацита и определяет возраст кристаллов субдоменов, даже на субмикронном уровне.
