Cameca EIKOS

Cameca EIKOS — атомный зонд, позволяющий проводить типовой высокоточный трехмерный наноанализ в исследовательских и промышленных целях.

Основываясь на тридцатилетнем опыте успешной разработки инструментов и оборудования для атомно-зондовой томографии, компания CAMECA создала EIKOS™, атомно-зондовый микроскоп для быстрого исследования сплавов и наноразмерных материалов.

Атомно-зондовая томография (APT или трехмерный атомный зонд) это единственный метод анализа материала, предоставляющий широкие возможности одновременно для трехмерной визуализации и измерения химического состава на атомном уровне (разрешение приблизительно 0.1-0.3 нм в глубину и 0.3-0.5 нм латерально). Со времен своих первых разработок атомно-зондовая томография внесла большой вклад в материаловедение.

Преимущества атомного зонда EIKOS:

• Трехмерная томография с исследованием микроструктур в наномасштабе
• Высокоэффективное обнаружение одиночных атомов с высоким пространственным разрешением
• Равная чувствительность ко всем элементам и их изотопа
• Измерение количественного состава (по шкале от менее чем одного нанометра до почти одного микрона)
• Доступен в электронной и электронно-лазерной конфигурации
• Стандартные методы подготовки образца

Зонд EIKOS доступен в двух комплектациях:
Базовая система EIKOS с конструкцией рефлектрона, обеспечивающий наилучшую разрешающую способность и соотношение сигнала-шум. Предустановленный контр-электрод облегчает работу с аппаратом и повышает надежность. Импульсная система подачи напряжения позволяет получать данные высокого качества при решении широкого круга металлургических задач.

Полностью укомплектованная система EIKOS-UV сочетает в себе все лучшие особенности базовой EIKOS (импульсная подача напряжения, конструкция рефлектрона, предустановленный контр-электрод) и полностью интегрированный лазерный импульсный модуль 355 нм с компьютерным контролем фокуса, что открывает еще больше возможностей применения.

Базовую систему EIKOS после покупки можно улучшить до EIKOS-UV.