Используя этот сайт, вы даете согласие на обработку cookies и ваших персональных данных.
Я согласен
Бесплатный звонок: 8 800 2000 567
en
Бесплатный звонок: 8 800 2000 567

Зондовый микроанализ

В каталоге оборудования ZEISS Connecting Solutions представлены современные атомно-зондовые томографы и электронно-лучевые микрозонды для проведения зондового анализа.
Фильтр
  • Cameca EIKOS
    Томографическая система с атомным зондом
    Cameca EIKOS
    Cameca EIKOS — атомный зонд, позволяющий проводить типовой высокоточный...
  • CAMECA EX-300
    Зонд неглубокой имплантации
    CAMECA EX-300
    Зонд неглубокой имплантации Cameca EX-300 — передовое решение для метрологии...
  • Cameca LEAP 5000
    Атомно-зондовый томограф
    Cameca LEAP 5000
    Cameca LEAP-5000 — трехмерный атомно-зондовый томограф с непревзойденными...
  • CAMECA SKAPHIA
    Электронно-зондовый микроанализатор
    CAMECA SKAPHIA
    CAMECA SKAPHIA - это защищённый электронно-зондовый микроанализатор радиоактивных...
  • CAMECA SXFive
    Электронный микрозонд
    CAMECA SXFive
    CAMECA SXFive — это электронно-зондовый микроанализатор для материаловедения...
  • CAMECA SXFive-TACTIS
    Электронно-зондовый микроанализатор
    CAMECA SXFive-TACTIS
    Cameca SXFive-TACTIS — электронный микрозонд для профессионального...
Показать больше
Читать далее
. . .
Заинтересованы в сотрудничестве?

Свяжитесь с нами по телефону: 8–800–2000–567 или заполните форму обратной связи:

Связаться с ZEISS
x