Масс-спектрометр вторичных ионов

Cameca IMS-HR³

Основная информация

Cameca IMS-HR³ — это масс-спектрометр, который сочетает высокую воспроизводимость с высокой разрешающей способностью по спектру и высоким разрешением по массам.

Подробнее...

Производитель CAMECA

Область применения

геохронология

Описание

Масс-спектрометр Cameca IMS-HR³ сочетает высокую воспроизводимость с высокой разрешающей способностью по спектру и высоким разрешением по массам.

IMS 1300-HR³ — это ионный микрозонд расширенной геометрии, обеспечивающий непревзойденные аналитические характеристики для широкого спектра применений в области геолого-геофизических наук: изучение геологических процессов посредством стабильных изотопов, определение возраста минералов, определение наличия и распределения микроэлементов. Его высокая чувствительность и высокая разрешающая способность в горизонтальной плоскости также делают его предпочтительным инструментом для поиска и измерения частиц урана для целей ядерной безопасности.

Благодаря новой модели масс-спектрометра IMS 1300-HR³ компания CAMECA значительно расширяет возможности прибора для масс-спектрометрии вторичных ионов расширенной геометрии, который сам по себе уже занимает ведущее положение на рынке и в настоящий момент предлагает геолого-геофизическому сообществу уникальное сочетание высокой воспроизводимости при высокой разрешающей способности по спектру и высоком разрешении по массам. Инструмент отвечает растущему спросу на измерения в микро-масштабе изотопных отношений in situ с высокой точностью и производительностью, открывающие широкий диапазон направлений исследований — от стабильных изотопов, геохронологии и следовых элементов до мелких частиц и т. д.

Технические характеристики

Основные характеристики

Конструкция	расширенной геометрии обеспечения оптимальной чувствительности при высоком разрешении по массе
Система для высокоточных измерений изотопов	универсальная многоколлекторная
Источники первичных ионов	двойные, для анализа положительно и отрицательно заряженных вторичных ионов
Возможности получения ионного изображения	режимы микрозонда и микроскопа
Система управления магнитом	усовершенствованная, для достижения высокой воспроизводимости при высоком разрешении по массе
Управление	дистанционное
Источник кислородной плазмы	высокочастотный, со значительно улучшенной плотностью пучка и стабильностью тока
Электроприводная камера хранения	с автоматической регулировкой высоты образца (Z)
УФ-микроскоп	для увеличения оптического разрешения изображения вместе со специальным программным обеспечением
Платы коллектора Фарадея	оснащенные резистором с сопротивлением 10^12 Ом

Запросить подробные характеристики

Сервисное обслуживание
Постгарантийное обслуживание в Сервисном Центре ZEISS –
это квалифицированная техническая поддержка и модернизация оборудования
от профессиональных инженеров:
- диагностика, профилактические и регламентные работы
- удаленные консультации
- замена запасных частей и комплектующих
- модернизация оборудования и установка актуального ПО
Узнать больше