Описание
Технические характеристики
Режимы химической визуализации |
Tapping AFM-IR; FASTspectra (AFM-IR); FASTmapping (AFM-IR); Hyperspectral Imaging; s-SNOM |
Режимы AFM |
Tapping; Contact phase; Force calibration; Lateral force; EFM/MFM Optional: NanoTA; SThM; LCR; C-AFM; KPFM |
Диапазон сканирования X-Y |
50 мкм х 50 мкм |
Диапазон сканирования по Z |
4 мкм |
Разрешение сканирования |
≤1024 x 1024 пикселей |
Расположение наконечника |
точность ± 10 нм |
Оптические характеристики |
CCD Разрешение 1,5 мкм 5MP |
Оптические характеристики |
зум 3X |
Оптические характеристики |
объектив 10X |
Оптические характеристики |
поле зрения ~ 900 х 600 мкм макс; ~ 450 х 300 мкм мин |
Сервисное обслуживание
Постгарантийное обслуживание в Сервисном Центре ZEISS –
это квалифицированная техническая поддержка и модернизация оборудования
от профессиональных инженеров:
. . .
Свяжитесь с нами по телефону: 8–800–2000–567 или заполните форму обратной связи: