Bruker Hysitron PI 85L – это компактный низкопрофильный наномеханический измерительный прибор для количественных наномеханических испытаний. Обеспечивает исключительную производительность и превосходную стабильность в наноразмерном диапазоне.
Bruker Hysitron PI 85L может быть подключен к сканирующему электронному микроскопу для получения изображений СЭМ. Сочетание этих двух методов позволяет исследователю расположить зонд с предельной точностью и отображать процесс деформации на протяжении всего испытания.
- Усовершенствованный цифровой контроллер Performech® с частотой обратной связи 78 кГц
- Низкопрофильная конструкция, идеально подходящая для СЭМ, комбинационного и оптического микроскопов.
- Технология преобразователя с электростатическим приводом и емкостным датчиком смещения
- Режимы наноиндентирования, сжатия, растяжения или изгиба. Собственный Q-Control активно гасит вибрации.
Основные преимущества:
Оптимальная визуализация
Bruker Hysitron PI 85L обеспечивает оптимальную визуализацию во время испытания при максимальном наклоне платформы и минимальном рабочем расстоянии. Платформа для позиционирования образца предназначена для размещения образцов толщиной до 10 мм и обеспечивает точное позиционирование образца в диапазоне >3 мм во всех трех направлениях (XYZ). Механическое соединение платформы образца и преобразователя обеспечивает стабильность для наномеханических испытаний.
In-Situ синхронизация механических данных с СЭМ визуализацией
Механические данные, полученные In-situ с помощью PI 85L, синхронизируются с изображениями СЭМ и отображаются на странице рядом друг с другом. В примере слева данные разрыва при сдвиговой нагрузке коррелируют с началом разрушения, наблюдаемого при обработке ионным пучком в FIB, содержащем медные соединения и хрупкий диэлектрический материал. Одновременные механические измерения и SEM-изображения позволяют полностью понять поведение материала при деформации.
Исследование поведения с помощью точных режимов
В PI 85L используется множество различных режимов для фундаментальных исследований механических свойств, характеристик деформации при растяжении, жесткость, вязкость при разрушении и механизмов деформации в различных образцах.
Расширьте возможности с помощью смешанных технологий
В дополнение к стандартной линейке режимов испытаний, PI 85L можно обновить дополнительными режимами, которые еще больше расширяют его возможности. От опции нагрева до электрических характеристик, PI 85L может адаптироваться к вашим потребностям.
Режимы испытаний:
- Наноиндентирование
Точное латеральное позиционирование и наноразмерная нагрузка, контроль глубины позволяют количественно определять основные механические свойства, такие как твердость и модуль упругости для широкого спектра материалов.
- Растяжение
Прямые и двухтактные испытания образцов собачьей кости, тонких пленок или нанопроволок позволяют измерять деформацию в материалах с низкими размерами, которые нелегко проверить традиционными методами.
- Изгиб
Точное установление нагрузки и измерение размера образца с использованием СЭМ позволяет проводить прямые измерения жесткости при изгибе и вязкости разрушения для однофазных, композитных или слоистых материалов.
- Сжатие
Столбики, частицы и другие мелкомасштабные структуры могут быть сжаты для измерения поведения напряжения деформации и получены свойства, наблюдая механизмы деформации в реальном времени. Правильное положение острия проверяется с помощью СЭМ.
