ThinProcess® Q — это траверсная спектрометрическая система, которая измеряет оптические свойства готового изделия. Работает в нескольких режимах автоматического сканирования для измерения предварительно установленных на готовом изделии позиций.
ThinProcess® Q — это траверсная спектрометрическая система, которая измеряет оптические свойства готового изделия. Работает в нескольких режимах автоматического сканирования для измерения предварительно установленных на готовом изделии позиций.
Может применяться для измерения покрытий на следующих материалах:
Архитектурно-строительное стекло
Автомобильное стекло
Стекло для дисплеев
Солнечные модули
Тонкопленочные солнечные батареи.
Технические характеристики
Основные характеристики
Свойства:
Измерение коэффициентов спектрального пропускания и отражения (365 нм–1 050 нм)
Возможные параметры анализа:
Цвет
Толщина покрытия
Анализ покрытия
Оценка спектральных характеристик
Оптическая плотность/коэффициент поглощения
Параметры солнечного излучения (ISO 9050:2003, DIN EN 410)
Статистические значения для серии, индексы Cp и Cpk
Возможность изменения скриптов
Дополнительные функции:
Расширенный спектральный диапазон (до 1 650 нм или 2 150 нм)
Измерения поверхностного сопротивления слоя
Измерение колориметрических значений под углом падения 55°