Система контроля покрытия

ZEISS ThinProcess Q

Основная информация

ThinProcess^® Q — это траверсная спектрометрическая система, которая измеряет оптические свойства готового изделия. Работает в нескольких режимах автоматического сканирования для измерения предварительно установленных на готовом изделии позиций.

Подробнее...

Производитель ZEISS

Описание
ThinProcess^® Q — это траверсная спектрометрическая система, которая измеряет оптические свойства готового изделия. Работает в нескольких режимах автоматического сканирования для измерения предварительно установленных на готовом изделии позиций.

Может применяться для измерения покрытий на следующих материалах:
Архитектурно-строительное стекло

Автомобильное стекло

Стекло для дисплеев

Солнечные модули

Тонкопленочные солнечные батареи.
Технические характеристики
Основные характеристики
Свойства:
Измерение коэффициентов спектрального пропускания и отражения (365 нм–1 050 нм)

Возможные параметры анализа:

Цвет

Толщина покрытия

Анализ покрытия

Оценка спектральных характеристик

Оптическая плотность/коэффициент поглощения

Параметры солнечного излучения (ISO 9050:2003, DIN EN 410)

Статистические значения для серии, индексы Cp и Cpk

Возможность изменения скриптов
Дополнительные функции:
Расширенный спектральный диапазон (до 1 650 нм или 2 150 нм)

Измерения поверхностного сопротивления слоя

Измерение колориметрических значений под углом падения 55°
Узнать подробные характеристики