ZEISS XRADIA ULTRA 800/810

Рентгеновский детектор микроскопа основан на рентгеновской оптике с синхротронов. В сочетании с точечным источником рентгеновского излучения это позволяет получить разрешение 700 нм. Микроскопы Xradia Ultra дополнительно фокусируют поток рентгеновского излучения, падающий на образец. В результате пространственное разрешение достигает 50 нм.

В Xradia Ultra реализованы два вида контраста:

• Абсорбционный контраст, или контраст поглощения. Лучше всего он подходит для отображения области различной плотности: поры, трещины, включения, повреждения;
• Фазовый контраст, необходимый для отображения поверхности с близкой плотностью, либо когда материал плохо поглощает рентгеновское излучение.

Сочетание абсорбционного и фазового контраста позволяет изучать полимеры, оксиды, композиты, топливные элементы, геологические образцы и биологические материалы.

ZEISS Xradia Ultra работает при атмосферном давлении и не требует вакуума для установки образца. Образец находится в нормальной окружающей среде. Ячейка для механических испытаний проводит наномеханические исследования высокопрочных сплавов, строительных материалов, волокон и композитов, биоматериалов, покрытий и пены in situ – на сжатие, растяжение, индентирование. Это позволяет изучить эволюцию внутренних структур под нагрузкой в 3D с разрешением до 50 нм.

Доступны две варианта тензодатчиков:

• LS108: максимальная сила 0.8 Н
• LS190: максимальная сила 9 Н

Рентгеновская трубка микроскопа Xradia Ultra – закрытого типа и не нуждается в расходных материалах, юстировке и перенастройке во всем диапазоне ускоряющих напряжений, не требует сервисного обслуживания и ее параметры постоянны в течении всей жизни источника.

Xradia Ultraоснащается двумя источниками рентгеновского излучения – с энергией фотонов 5,4 кэВ или 8,0 кэВ.