ZEISS ZEN Intellesis

ZEISS ZEN Intellesis — программный модуль с технологией глубокого обучения для микроскопии/ ZEISS качественно изменяет механизм обработки больших массивов изображений, полученных на различных устройствах, дополняя системы микроскопии мощными программными возможностями — такими, как глубокое обучение. Это дает возможность легко получать количественные аналитические данные как специалистам из промышленности, так и научным работникам.

Первое алгоритмическое решение платформы ZEISS ZEN Intellesis делает доступным обычному специалисту простой в использовании и мощный инструмент сегментации наборов двухмерных и трёхмерных изображений. Программный модуль ZEISS ZEN Intellesis подходит для изображений, полученных на оптических, конфокальных, рентгеновских, электронных и ионных микроскопах с использованием программного обеспечения ZEISS Efficient Navigation (ZEN).

Важнейшая проблема обработки изображений микроструктуры заключается в сложности автоматизации процесса анализа. Как правило, изображения трудно автоматически классифицировать и выделить конкретные фазы для дальнейшей интерпретации. На изображениях присутствуют шум и артефакты, из-за чего традиционные аналитические системы перестают давать достоверные результаты.

Опытный специалист во время визуального осмотра соединяет в уме богатые и, возможно, мультимодальные наборы данных, чтобы извлечь необходимую информацию. Это трудно воспроизвести на компьютере, и из-за этого микроскопию сложно и дорого автоматизировать. Для того, чтобы увеличить масштаб исследований и согласовать их результаты, могут понадобиться тысячи образцов. Технологии глубокого обучения впервые дали нам мощные инструменты для того, чтобы охватить сложный набор процессов, из которых состоит анализ комплексных данных при визуализации в микроскопии, и сделать это таким образом, чтобы процесс можно было масштабировать на гораздо большее количество исследуемых образцов.

Cхемы классификации, основанные на глубоком обучении, гораздо более толерантны к шуму, чем их традиционные аналоги, а одиночные наборы качественных данных могут быть использованы для обучения классификаторов, работающих с широким спектром образцов. C помощью глубокого обучения возможно распознать элементы, имеющие слабое различие в градациях серого или не имеющие различий, и отличающиеся только особенностями текстуры поверхности. Используйте технологии глубокого обучения для изучения геологических, минералогических и металлических микроструктур.

Скачать бесплатную 30-дневную версию ZEISS ZEN Intellesis >>