ZEISS MultiSEM 505/506 — самый быстрый в мире сканирующий электронный микроскоп. Он позволяет одновременно использовать до 91 пучка для получения изображений. С ним получается визуализировать образцы размером до сантиметра в нанометрическом разрешении.
Этот микроскоп не имеет аналогов и создан для непрерывной круглосуточной работы. После настройки скоростного сбора данных система MultiSEM автоматически визуализирует образец с высокой контрастностью.
ZEISS MultiSEM позволяет максимально быстро получить изображения с нанометровым разрешением:
Одновременная работа 91 пучка делает визуализацию быстрой как никогда
На визуализацию области площадью 1 см² с размером пиксела 4 нм уходит меньше трех часов
Результат — высококонтрастные изображения с низким уровнем шума благодаря оптимизированной растровой электронной детекции.
Изучайте крупные образцы:
Система MultiSEM оснащена держателем образцов с рабочей поверхностью 10×10 см и позволяет изучать образцы целиком
Протоколы автоматического сбора позволяют визуализировать большие области и получать изображения в наномасштабе без потери макроскопического контекста.
Программное обеспечение для визуализации ZEN:
Система MultiSEM управляется просто и интуитивно понятно с помощью ПО ZEISS ZEN
Механизмы автонастройки помогут получать высококонтрастные изображения в высоком разрешении
MultiSEM позволяет быстро и просто настраивать программы автоматического сбора, подходящие под ваш образец
ПО ZEN для системы MultiSEM позволяет раскрыть все преимущества быстрой визуализации с непрерывной параллельной записью изображения
Для гибкой и быстрой разработки приложений предусмотрен открытый интерфейс прикладного программирования (API).
Технологии
В системе MultiSEM одновременно используется несколько пучков электронов (зеленый: путь подсветки) и детекторов. Точно настроенный путь детекции (красный) собирает для визуализации отраженные вторичные электроны. Каждый луч синхронно выполняет сканирование в отдельных положениях, что позволяет получить единое изображение. Пучки электронов расположены в шестиугольной сетке. Полное изображение получается путем объединения всех фрагментов.
Для ускорения записи и обеспечения высокой скорости визуализации параллельно используется несколько компьютеров. В системе MultiSEM сбор изображений и рабочий процесс полностью разделены.
Интегрированный рабочий процесс
Томография с серийными срезами для сбора данных по большому количеству образцов
Автоматически выполняйте срезы находящейся в смоле биологической ткани с томографом ATUMtome. Собирайте до 1000 серийных срезов в день
Устанавливайте пленку со срезами на кремниевую пластину и проводите визуализацию с помощью светового микроскопа ZEISS. ПО ля корреляции ZEISS Shuttle & Find позволят сформировать общее изображение. Затем перенесите пластину в систему MultiSEM и используйте общее изображение для навигации по образцу и планирования хода эксперимента с помощью привычного пользовательского интерфейса ZEN
Планируйте эксперимент в едином графическом центре управления. Экономьте время с эффективным автоматическим обнаружением срезов для определения областей интереса и наведения на них.
Постгарантийное обслуживание в Сервисном Центре ZEISS –
это квалифицированная техническая поддержка и модернизация оборудования
от профессиональных инженеров:
диагностика, профилактические и регламентные работы
удаленные консультации
замена запасных частей и комплектующих
модернизация оборудования и установка актуального ПО