Сверхвысокоразрешающий электронный микроскоп

ZEISS GeminiSEM 500

Основная информация

ZEISS GeminiSEM 500 — это электронный микроскоп, который разрешает любые наноразмерные объекты: биоматериалы, катализаторы, фуллерены, пористости, поверхности раздела.

Производитель ZEISS

Область применения

материаловедение, наука о жизни, атомная промышленность, аэрокосмические технологии, автомобильная промышленность, электронная промышленность

Описание

ZEISS GeminiSEM 500 — это электронный микроскоп, который разрешает любые наноразмерные объекты - биоматериалы, катализаторы, фуллерены, пористости, поверхности раздела. Предельное разрешение 0,5 нм при 15 кВ и 1,0 нм при 500 В. GeminiSEM 500 изображает нанообъеты «на просвет» с разрешением трансмиссионных (просвечивающих) микроскопов – 0,4 нм.

GeminiSEM 500 исследует газящие и разрушающиеся под действием радиации образцы - полимеры, химические вещества, суспензии - при низких ускоряющих напряжениях в 20 В. Это увеличивает поверхностную чувствительность, уменьшает зарядку непроводящих образцов и повреждение чувствительных к пучку электронов образцов. В результате микроскоп исследует диэлектрические образцы с нанометровыми областями интереса без предварительной пробоподгототовки.

Внутрилинзовые детекторы вторичных и обратно-рассеянных электронов изображают поверхность образцов одновременно. Разрешение в обратно-рассеянных электронах при этом 1,0 нм при 1 кВ.

Конструкция колонны GeminiSEM 500 минимизирует магнитные поля на поверхности образцов. Микроскоп изображает диа-, пара- или ферромагнитные образцы с разрешением 4 нм при рабочем расстоянии 2 мм и напряжении 1 кВ.

Характеристики

Основные характеристики

Тип катода	Шоттки
Разрешение электронной колонны	0,4 нм при 30 кВ в режиме СТЭМ 0,5 нм при 15 кВ 0,9 нм при 1 кВ 0,8 нм при 1 кВ* 1,0 нм при 0.5 кВ 1,0 нм при 1 кВ в обратно-рассеянных электронах *с опцией приложения напряжения к столику для образцов
Ускоряющее напряжение электронной колонны	20 В – 30 000 В
Разрешение ионной колонны	3 нм при 30 кВ 120 нм при 1 кВ 330 нм при 500 В
Ток ионного пучка	1 пА – 100 нА
Перемещения рабочего столика	X = 130 мм Y = 130 мм Z = 50 мм Вращение 360 градусов Наклон от -4 до +70 градусов
Тип столика	Комбинированный эвцентрик: выбранная точка на образце всегда остается в фокусе при вращении и наклоне образца
Детекторы	Стандартные: Боковой вторичных электронов Внутрилинзовый вторичных электронов Опциональные: Сдвоенный внутрилинзовый детектор вторичных и обратно-рассеянных электронов Обратно-рассеянных электронов Катодолюминесцентный СТЭМ Вторичных электронов и вторичных ионов Масс-спектрометр вторичных ионов ЭДС, ВДС, ДОЭ и др.

Узнать подробные характеристики

Сервисное обслуживание
Сервисное обслуживание

Постгарантийное обслуживание в Сервисном Центре ZEISS –
это квалифицированная техническая поддержка и модернизация оборудования
от профессиональных инженеров:
- диагностика, профилактические и регламентные работы
- удаленные консультации
- замена запасных частей и комплектующих
- модернизация оборудования и установка актуального ПО
Узнать больше