-
Описание
Атомно-силовой микроскоп NanoWizard® ULTRA Speed 2 – последнее поколение в линейке NanoWizard® для биологических задач позволяющее получать атомарное разрешение при высокоскоростном сканировании до 10 кадров/сек.
Сочетает в себе все возможности предыдущих моделей для исследований распределений механических свойств поверхности в наномасштабе в режиме колокализации со световыми микроскопами и быстрое сканирование со скоростями до 10 кадров в секунду. Новый АСМ является продуктом совместной работы двух команд – Bruker и JPK и обладает всеми ведущими режимами для полноценного исследования в области биологии и наномедицины.
Основные характеристики
- Легендарный PeakForce Tapping® для легкого получения изображения образцов
- Технология NestedScanner для высокоскоростной визуализации поверхностных структур размером до 8 мкм
- Новый функционал сшивки для автоматизированного картирования больших площадей образца
- Программное обеспечение V7 Software с новым интуитивно-понятным пользовательским интерфейсом
- Опция DirectOverlay™ 2 для комбинации корреляционной атомно-силовой и оптической микроскопии, в том числе совместим с конфокальными микроскопами и такими методиками как FRET, TIRF, FLIM, FRAP, STED, STORM, PALM, SIM, детектирование единичных молекул, super-resolution и др.
- Высокопроизводительный цифровой контроллер Vortis 2 с низким уровнем шума.
- Многоцелевой узел сканирования, реализующего сканирование зондом для безопасного исследования объектов в жидкости и одновременного использования атомно-силового микроскопа с другими оптическими методиками или отдельно
- Оптический тракт предусматривает использование различных инвертированных и прямых микроскопов для непрозрачных образцов или флуоресцентных зум-микроскопов для больших полей зрения
- Большое количество всевозможных аксессуаров, держателей, жидкостных ячеек, температурные и крио-столы с широким диапазоном температур
- Опция по микро и нано манипулированию FluidFM® от компании Cytosurge
- Опциональные увеличенные диапазоны сканирования по XY или Z с опциями CellHesion®, TAO™ и HybridStage™.
Новый функционал сшивки для автоматизированного картирования больших площадей образца с помощью специального стола HybridStage™.
Живые клетки в клеточной культуре при 37С°
- Оптическое изображение, сшитое из 5х6 кадров, демонстрирующее участок поверхности образца 630х450 мкм2
- PeakForce Tapping – изображения в выбранной области
- Изображение области «а» снимка 2 с применением фильтра градиента высоты
- Изображение микровиллей области «b» снимка 2, диапазон высоты по Z 500 нм
-
Технические характеристики
Основные характеристики
Атомарное разрешение при сканировании в жидкости на инвертированном оптическом микроскопе с включенной обратной связью <0.015 нм СКО шум по оси Z
Минимальный уровень погрешности регистрации сигнала отклонения кантилевера <2 пм СКО
Динамический диапазон фотодиода 8 MHz
Источник света Низкокогерентный ИК
Узел сканирования для работы в газовой и жидкой средах Полностью защищенный
Параметры сканера Размер сканирования с низким уровнем шума 30×30×6,5 мкм³ с возможностью увеличения диапазона по Z 1,5 мкм с опцией высокоскоростного сканирования
Величина шума по оси Z 0,04 нм СКО
Величина шума по осям XY <0,09 нм
Совместимость с high-end камерами Аndor, Hamamatsu, Photometrics и др.
Доступные режимы Силовая спектроскопия, силовоое картирование, нанолитография, наноманипулирование, наноиндентирование
Режимы сканирования режим QI™, PeakForce Tapping™, контактный режим латеральных сил, режим прерывистого контакта и бесконтактный режим, режимы электрической и магнитной силовой микроскопии, визуализация фазы и высших гармоник, электрический режим
-
Сервисное обслуживание
Постгарантийное обслуживание в Сервисном Центре ZEISS –
это квалифицированная техническая поддержка и модернизация оборудования
от профессиональных инженеров:
- диагностика, профилактические и регламентные работы
- удаленные консультации
- замена запасных частей и комплектующих
- модернизация оборудования и установка актуального ПО
. . .
Свяжитесь с нами по телефону: 8–800–2000–567 или заполните форму обратной связи: