Описание
Технические характеристики
Атомарное разрешение при сканировании в жидкости на инвертированном оптическом микроскопе с включенной обратной связью |
<0.015 нм СКО шум по оси Z |
Минимальный уровень погрешности регистрации сигнала отклонения кантилевера |
<2 пм СКО |
Динамический диапазон фотодиода |
8 MHz |
Источник света |
Низкокогерентный ИК |
Узел сканирования для работы в газовой и жидкой средах |
Полностью защищенный |
Параметры сканера |
Размер сканирования с низким уровнем шума 30×30×6,5 мкм³ с возможностью увеличения диапазона по Z 1,5 мкм с опцией высокоскоростного сканирования |
Величина шума по оси Z |
0,04 нм СКО |
Величина шума по осям XY |
<0,09 нм |
Совместимость с high-end камерами |
Аndor, Hamamatsu, Photometrics и др. |
Доступные режимы |
Силовая спектроскопия, силовоое картирование, нанолитография, наноманипулирование, наноиндентирование |
Режимы сканирования |
режим QI™, PeakForce Tapping™, контактный режим латеральных сил, режим прерывистого контакта и бесконтактный режим, режимы электрической и магнитной силовой микроскопии, визуализация фазы и высших гармоник, электрический режим |
Сервисное обслуживание
Постгарантийное обслуживание в Сервисном Центре ZEISS –
это квалифицированная техническая поддержка и модернизация оборудования
от профессиональных инженеров:
. . .
Свяжитесь с нами по телефону: 8–800–2000–567 или заполните форму обратной связи: