Описание
Технические характеристики
Разрешение |
атомарное |
Свободный объем образцов |
Ø140×18мм3 |
Совместимость с high-end камерами |
Аndor, Hamamatsu, Photometrics и др. |
Доступные режимы |
силовой спектроскопии, силового картирования, нанолитографии, наноманипуляции, наноиндентирования, электрохимические эксперименты с температурным контролем |
Режимы сканирования |
контактный режим латеральных сил, режим прерывистого контакта и бесконтактный режим, режимы электрической и магнитно-силовой микроскопии, метод зонда Кельвина, проводящая микроскопия, электро-силовая микроскопия |
Узел сканирования для работы в газовой и жидкой средах |
Полностью защищенный, для работы в газовой и жидкой средах |
Параметры сканера |
100×100×15 мкм³ размер сканирования |
Величина шума по осям XY |
XY <0,09 нм |
Величина шума по оси Z |
Z 0,04 нм СКО |
Сервисное обслуживание
Постгарантийное обслуживание в Сервисном Центре ZEISS –
это квалифицированная техническая поддержка и модернизация оборудования
от профессиональных инженеров:
. . .
Свяжитесь с нами по телефону: 8–800–2000–567 или заполните форму обратной связи: